测试分析服务

1.WAT测试（12寸晶圆）

MOS器件特性

存储器件特性

后段电参数，R，C，Rs

2.磁性器件测试（12寸晶圆）

读写特性，TMR，Vc, Rp Rap

可靠性测试：BDV，Endurance，Data Retention，WER

其它器件参数

3.磁材料特性（薄膜）

PMA，阻尼系数，Ms,Hc等

4.结构分析

SEM切片分析

服务支持电话：13861777177

Email：sales@hikstor.com